落下テストを見るのはいつも楽しいですが、変数が非常に多いため、そのほとんどの信頼性は疑わしいと感じてきました。

大半の落下テストは、誰かが手でスマートフォンを落とすというもので、落下距離は「腰の高さ」や「頭の高さ」といった不正確な値で測定されることが多く、両方のスマートフォンに全く同じ力がかかったと断言するのは困難です。スマートフォンを手から落とすと、落下角度に差が生じる可能性があり、片側をもう片側よりほんの一瞬早く離すと、デバイスが回転してしまうこともあります。つまり、ほとんどの落下テストは科学というより娯楽に近いのです。

しかし、iPhone 6sとSamsung Galaxy S7の最新の落下テスト競争は、両方の電話機がまったく同じ高さからまったく同じ方法で落下することを保証するように設計された専門の機器を使用して適切に行われました。

もちろん、理想的にはこれを数百回実行して結果を平均化したいところですが、コストが少々高くつく可能性があります。

このテストは、他のテストよりもさらに過酷で、「死闘」と言えるでしょう。両方のスマートフォンを繰り返し落下させ、外観が破壊されるだけでなく、完全に動作しなくなるまでテストします。すべてを台無しにするつもりはありませんが、勝者は明らかです…

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